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試験と測定
テストクリップ - IC
メーカー:
(5)
(3)
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Contact Material:
-
(1)
Beryllium Copper
(2)
Copper Alloy
(5)
Product Status:
Active
(6)
Obsolete
(2)
Type:
DIP, Open Back
(1)
DIP, Standard
(1)
フィルター:
テストクリップ - IC
Contact Finish : Gold
Number of Positions or Pins (Grid) : 16 (2 x 8)
8 記録
画像
部
メーカー
説明
MOQ
ストック
アクション
5252
Pomona Electronics
TEST CLIP SOIC 16 (2 X 8)
1
PDF
75
In-stock
見積もりを取る
923739-16
3M
TEST CLIP DIP 16 (2 X 8)
1
PDF
28
In-stock
見積もりを取る
923655-16
3M
TEST CLIP SOIC 16 (2 X 8)
1
PDF
14
In-stock
見積もりを取る
923665-16
3M
TEST CLIP SOIC 16 (2 X 8)
1
PDF
9
In-stock
見積もりを取る
927739-16
3M
TEST CLIP DIP 16 (2 X 8)
1
PDF
24
In-stock
見積もりを取る
923743-16
3M
TEST CLIP DIP 16 (2 X 8)
1
PDF
1
In-stock
見積もりを取る
5116
Pomona Electronics
TEST CLIP DIP 16 (2 X 8)
1
PDF
6,500
In-stock
見積もりを取る
5216
Pomona Electronics
TEST CLIP DIP 16 (2 X 8)
1
PDF
6,500
In-stock
見積もりを取る
5252
Pomona Electronics
TEST CLIP SOIC 16 (2 X 8)
ストック : 75
RFQ
923739-16
3M
TEST CLIP DIP 16 (2 X 8)
ストック : 28
RFQ
923655-16
3M
TEST CLIP SOIC 16 (2 X 8)
ストック : 14
RFQ
923665-16
3M
TEST CLIP SOIC 16 (2 X 8)
ストック : 9
RFQ
927739-16
3M
TEST CLIP DIP 16 (2 X 8)
ストック : 24
RFQ
923743-16
3M
TEST CLIP DIP 16 (2 X 8)
ストック : 1
RFQ
5116
Pomona Electronics
TEST CLIP DIP 16 (2 X 8)
ストック : 6,500
RFQ
5216
Pomona Electronics
TEST CLIP DIP 16 (2 X 8)
ストック : 6,500
RFQ
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